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首页 > 产品 > 可靠性与失效分析服务

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可靠性与失效分析服务

检测类产品

可靠性与失效分析服务

Epitaxial wafer,Suzhou Xingyao Microelectronics,Epitaxial wafer

Visual Check: Cross-section

SOI wafer,Suzhou Xingyao Microelectronics,SOI wafer

Visual Check: De-capsulation

SiN(Si₃N₄),Suzhou Xingyao Microelectronics,SiN(Si₃N₄)

Visual Check: AOI

SiO2 wafer,Suzhou Xingyao Microelectronics,SiO2 wafer

Equipment Name :SAT (Scanning Acoustic Microscope)

Test Wafer,Suzhou Xingyao Microelectronics,Test Wafer

Equipment Name :X-ray（CT）

解决方案: 整机柜基础环境解决方案; 跨机柜互连解决方案; 液冷散热解决方案

产品: 铜互连; 光互连; 热管理; 供电管理

关于我们: 公司概况; 新闻

联系我们: 中国（江苏）自由贸易试验区苏州工业园区佳胜路3号3栋6层; Seanye@Starshinemicro.com; 13913581308

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